Chapter 15 Electron Microscopy of Intermediate Filaments: Teaming up with Atomic Force and Confocal Laser Scanning Microscopy

Laurent Kreplak, Karsten Richter, Ueli Aebi, Harald Herrmann

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Chapter 15 Electron Microscopy of Intermediate Filaments: Teaming up with Atomic Force and Confocal Laser Scanning Microscopy'. En conjunto forman una huella única.

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