Monitoring intermediate filament assembly by small-angle x-ray scattering reveals the molecular architecture of assembly intermediates

Anna V. Sokolova, Laurent Kreplak, Tatjana Wedig, Norbert Mücke, Dmitri I. Svergun, Harald Herrmann, Ueli Aebi, Sergei V. Strelkov

Producción científica: Contribución a una revista › Artículo › revisión exhaustiva

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Huella

Profundice en los temas de investigación de 'Monitoring intermediate filament assembly by small-angle x-ray scattering reveals the molecular architecture of assembly intermediates'. En conjunto forman una huella única.

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